Doctoraat in de ingenieurswetenschappen: elektrotechniek

Fotonische geïntegreerde componenten voor optische coherentietomografie


Doctorandus Publieke verdediging
Naam: Günay Yurtsever   Datum: Vrijdag 12/06/2015 om 15:00 
Adres: ()
, null null
  Lokatie: auditorium P Jozef Plateau, gelijkvloers, Jozef Plateaustraat 22, 9000 Gent
Contact FEA: info.ea@ugent.be   Taal: Engels

Curriculum
Bachelor in Electrical and Electronics Engineering, Bilkent University, Ankara, Turkey, 2001.
Master of Science in Biomedical Engineering, Drexel University, Philadelphia, USA, 2006.
Master of Science in Bioengineering, University of Pennsylvania, Philadelphia, USA, 2006.

Promotor
Roel Baets

Examencommissie
prof. Rik Van de Walle
Roel Baets (EA05)
Wim Bogaerts
Danaë Delbeke, Universiteit Gent, Faculteit Ingenieurswetenschappen en Architectuur, EA05 - Vakgroep Informatietechnologie, Technologiepark Zwijnaarde 15, iGent, 9052 Zwijnaarde
E: danae.delbeke@ugent.be
Patrick Segers
Ton van Leeuwen
Didier Beghuin

Onderzoeksthema

Optische coherentie-tomografie (OCT) is een relatief recente medische beeldvormingstechniek die dwarsdoorsnede beelden van weefsel kan maken. Het wordt hoofdzakelijk gebruikt in de oogheelkunde voor retinale beeldvorming. Deze nuttige technologie kan breder worden ingezet in kleine klinische centra en in ontwikkelingslanden als de huidige prijs ( > 50.000 euros) verder zou dalen. Met kosteneffectieve waferschaal productietechnieken, kunnen optische onderdelen in OCT geïntegreerd worden op een enkel substraat, om zo de prijs aanzienlijk te verminderen. In het kader van dit proefschrift, werden fotonisch geïntegreerde interferometers voor OCT ontworpen en gefabriceerd. Door het gebruiken van deze interferometers, samen met externe lichtbronnen en detectoren, waren we in staat OCT beelden van een weefselfantoom (een object dat optische eigenschappen van weefsel heeft) en in vivo menselijke huid te verkrijgen. Om door te gaan met meer complexe fotonische geïntegreerde schakelingen voor OCT is optimalisatie nodig betreffende de verliezen van vezels-chip koppeling. We toonden ook de resultaten van het gebruik van een hoge-resolutie, multichannel spectrometer op SOI. Verdere optimalisatie van de fabricagetoleranties moet ultracompacte spectrometers mogelijk maken. Verder onderzoek naar integratietechnieken van actieve componenten zoals lichtbronnen en detectoren, bovenop passieve structuren, vergelijkbaar met demonstraties in dit proefschrift, kan een weg openen naar volledig geïntegreerde OCT systemen.


Taal proefschrift
Engels

Documenten