De steeds toenemende groei en ontwikkeling van moderne elektronica leiden tot steeds snellere en meer complexe apparaten. Omdat deze evolutie almaar kleinere componenten oplevert, worden de effecten van variaties in het ontwerp ervan telkens belangrijker. Omdat dergelijke variaties tijdens het productieproces problemen met zich kunnen meebrengen, is het dan ook belangrijk dat de impact van deze variaties tijdens de ontwerpfase in rekening gebracht wordt. De gebruikelijke aanpak om het gedrag van apparaten in functie van de variërende parameters te modelleren, schiet tekort wanneer deze parameters of hun waarschijnlijkheidsdistributie niet gekend zijn. In dit proefschrift worden in dit kader enkele technieken uiteengezet. Een generatief model beschrijft de variatie in het gedrag van apparaten op basis van enkele voorbeelden. Een tweede, Bayesiaans model karakteriseert de onzekerheid van een rationaal macromodel. Ten slotte wordt een techniek beschreven om aleatorische en epistemische onzekerheid in een gemeenschappelijk kader te propageren. Deze technieken worden succesvol toegepast op een aantal passieve microgolfstructuren om onzekerheid in kaart te brengen.